J. P. Raskin

Université catholique de Louvain
  • 2.2.3.2024 Depleted AlN/Si interfaces for minimizing RF loss in GaN-on-Si HEMTs

    H. Hahn, AIXTRON SE
    C. Mauder, AIXTRON SE
    M. Marx, AIXTRON SE
    Z. Gao, AIXTRON SE
    P. Lauffer, AIXTRON SE
    O. Schon, AIXTRON SE
    P. T. John, AIXTRON SE
    S. Banerjee, imec
    P. Cardinael, Imec and Université catholique de Louvain
    J. P. Raskin, Université catholique de Louvain
    B. Parvais, imec & Vrije Universiteit Brussels
    lin, imec
    D. Fahle, AIXTRON SE
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